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无球差原位观察
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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无球差原位观察
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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120kV高衬度透射电子显微镜_JEM-1400
透射电子显微镜 JEM-1400120kV高衬度透射电子显微镜_JEM-1400 仪器描述 主要特点 主要参数
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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300kV场发射透射电子显微镜 JEM-3100F
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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JEM-2100F日常操作说明
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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JEOL透射电镜规格表
而开发的透射电子显微镜,从生物领域到聚合物、纳米技术、最先进的材料领域,应用范围非常广阔,它为TEM操作提供了最优化的新环境。 JEM-2100
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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120kV高衬度透射电子显微镜_JEM-1400
120kV高衬度透射电子显微镜_JEM-1400 仪器描述 主要特点 主要参数透射电子显微镜 JEM-1400
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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JEM-2100F日常操作说明
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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300kV场发射透射电子显微镜 JEM-3100F
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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透射电镜常见问题处理与日常维护——JEM-2100 培训资料
来源:2009 资料
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